Plataforma de test para semiconductor M2 Flexible Edition

Descripción general del producto
Una plataforma flexible para KGD, dispositivos empaquetados y small modules. Pruebas AC y DC ultrarrápidas en múltiples sitios, incluidos ensayos de avalancha, cortocircuito y estrés DRB, además de verificaciones térmicas del die-attach en el paquete. La arquitectura basada en loadboard permite conmutaciones rápidas entre distintos tipos de paquete y entre handlers pick-and-place, gravity feed o leadframe. La plataforma integra pruebas DC modulares de alta tensión/alta corriente y pruebas AC dinámicas en una arquitectura compacta y compatible con handlers, diseñada para operación 24/7 en entornos de producción.

Razones

• Flexibilidad operativa: configuración rápida para nuevas familias de dispositivos, reconfiguración rápida del handler para distintos tamaños de paquete, transiciones sencillas entre condiciones de prueba ambiente y hot. Adecuada para escenarios de bajo volumen/alto mix o actividades de ingeniería/NPI. El diseño modular de M2 permite reconfigurar pruebas, topologías, combinaciones de generadores y condiciones de estrés con mínima interrupción.
• Plataforma escalable para crecimiento: M2 se adapta a las necesidades de producción. Añadir booster boards para incrementar pruebas de corriente LV hasta 1.000 A. DS5 Quasar y DS6 Pulsar habilitan la expansión de pruebas de switching dinámico.
• Resultados reproducibles: una arquitectura de prueba única a través de varias etapas de fabricación reduce problemas de correlación, simplifica la configuración y la formación de operarios. Una plataforma para KGD, dispositivos empaquetados y small modules con seguridad apta para producción.

Capacidades clave

• Arquitectura de pruebas modular AC+DC que soporta parámetros estáticos, rendimiento de conmutación dinámico, calidad del gate, pruebas de estrés por avalancha y cortocircuito, pruebas DRB y verificaciones térmicas del die-attach.
• Enfoque basado en loadboard para reconfiguración rápida entre tipos de paquete e interfaces de handler (pick-and-place, gravity feed, leadframe strip).
• Diseñada para uso continuo y alta fiabilidad en producción con hardware robusto, preciso y demanda de mantenimiento minimizada.
• Dirigida a dispositivos de potencia SiC, GaN y silicio en etapa die (KGD), discretos empaquetados y small module.

CARACTERÍSTICAS / CONFIGURACIONES (tabla resumen)
FEATURES/CONFIGURATIONS | M2 | M2 PRO | M2 Pulsar | M2 Pulsar Pro | M2 One-Test
Number of test sites | 2 DUT x 2 sites (AC + DC) | 4 DUT x 2 sites (AC + DC) | 2 DUT x 2 sites (AC + DC) | 4 DUT x 2 sites (AC + DC) | 1 site AC + DC combined
AC dynamic switch performance | M2 DS5 Quasar Upto 2kA short circuit | M2 DS5 Quasar Upto 2kA short circuit | M2 DS6 Pulsar Upto 7.5kA short circuit | M2 DS6 Pulsar Upto 7.5kA short circuit | M2 DS5 Quasar Upto 2kA short circuit
DC parametric test | 3kV 200A (integrated) | 3kV 200A (integrated) | 3kV 600A (integrated) Expandable to 1,000A | 3kV 600A (integrated) Expandable to 1,000A | 3kV 200A (integrated)
Gate oxide and quality | Gate resistance & capacitance | Gate resistance & capacitance | Gate resistance & capacitance | Gate resistance & capacitance | Gate resistance & capacitance
UIS avalanche / body diode quality | — | 2kV 1000A AC test | — | 2kV 1000A AC test | —

Notas adicionales
M2 está orientada a productos de potencia de nueva generación wide bandgap (WBG) y soporta reconfiguración rápida, expansión modular (boosters, generadores DS5/DS6) y un enfoque de seguridad y fiabilidad orientado a la producción. El sistema admite integración friendly con handlers pick-and-place, gravity feed y leadframe y es adecuado para escenarios de alto mix/bajo volumen y para escalado a alto volumen.

Características / especificaciones técnicas

• Modelo: M2 Flexible Edition — plataforma ATE modular para KGD, dispositivos empaquetados y small modules.
• Tecnologías soportadas: SiC, GaN, dispositivos de potencia en silicio (MOSFETs, JFETs, IGBTs, transistores, SCRs, dispositivos bipolares, diodos, TRIACs, dispositivos de potencia inteligentes).
• Tipos de test: pruebas paramétricas DC estáticas, pruebas de conmutación AC dinámicas, avalancha, cortocircuito, DRB stress testing, verificaciones térmicas del die-attach/package, pruebas de resistencia/capacitancia de gate.
• DC parametric (integrado): hasta 3 kV; corrientes integradas típicas 200 A (estándar) y 600 A en variantes Pulsar; ampliable a 1.000 A con booster boards.
• Performance switching dinámico AC: DS5 Quasar (hasta 2 kA cortocircuito) y DS6 Pulsar (hasta 7,5 kA cortocircuito) según configuración.
• Número de sitios (configuración M2 Flexible Edition): 2 DUT x 2 sites (AC + DC); otras variantes soportan 4 DUT x 2 sites o sitio combinado único.
• Arquitectura: basada en loadboard para cambio rápido entre tipos de package e interfaces handler (pick-and-place, gravity feed, leadframe strip handlers).
• Escalabilidad: adiciones modulares de generadores (DS5/DS6), booster boards para aumentar pruebas de corriente LV; la plataforma crece con las necesidades de producción.
• Operación: diseño robusto y preciso para funcionamiento 24/7 en producción de alto volumen con funciones de seguridad probadas.