Microscopio con gran distancia de trabajo AM7915MZTL

infrarrojode medidaspara análisis

AM7915MZTL forma parte de la gama de Larga distancia de trabajo (LWD) y con su amplia gama de aumentos que van de 10 a 140x, es adecuado para una gran variedad de aplicaciones donde sean necesarios una distancia extra al objeto o un campo de visión mayor. Con la función de Rango Dinámico Extendido (EDR), los detalles de las zonas más oscuras o brillantes del objeto podrán ser revelados mediante la acumulación de imágenes a distintos niveles de exposición. La función de Profundidad de Campo Ampliada (EDOF) acumula automáticamente imágenes a distinto nivel de enfoque para mejorar la profundidad de campo en las superficies rugosas o poco uniformes. La función AMR es de importancia especial cuando se usan las funciones de medición con frecuencia. Gracias al filtro de polarización integrado, este modelo es ideal cuando se trabaja con objetos brillantes o reflectantes, como metal, plástico, cristal, joyas, componentes electrónicos, etc. Las principales características del AM7915MZTL son: • Sensor Edge de 5 megapíxeles • Extended Depth of Field (EDOF)* • Extended Dynamic Range (EDR)* • Aumento de 10-140x & Larga distancia de trabajo • Automatic Magnification Reading (AMR) • Polarizador integrado • Flexible LED Control (FLC)