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Medidor de espesores estacionario 3 nm - 100 µm | F30 seriesde reflectancia espectralbenchtop
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Características
- Tipo
- estacionario
- Tecnología
- de reflectancia espectral
- Otras características
- benchtop
Descripción
Mida las tarifas de la deposición, el espesor del film, las constantes ópticas (n y k), y la uniformidad de semiconductores y de capas del dieléctrico en tiempo real con el sistema espectral de la reflexión F30.
Capas del ejemplo
MBE y MOCVD: Las películas lisas y translúcidas, o ligeramente absorbentes, pueden ser medidas. Esto incluye virtualmente cualquier material semiconductor, de AIGaN a GaInAsP.
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* Los precios no incluyen impuestos, gastos de entrega ni derechos de exportación. Tampoco incluyen gastos de instalación o de puesta en marcha. Los precios se dan a título indicativo y pueden cambiar en función del país, del coste de las materias primas y de los tipos de cambio.