Para la electrónica médica, la electrónica del automóvil, las instalaciones de alimentación y el campo de aplicación de la ingeniería mecánica, es imprescindible tener una solución de procesamiento de señal digital de alta resolución, con la cual, para cumplir con la medición de señales pequeñas, y la restauración de los detalles de la señal a partir de señales grandes.
Basada en la plataforma tecnológica X-Visual (creada por Lilliput (OWON)), la estación de medición in situ OWON XDS n-in-1 ha sido inventada para responder a esta necesidad.
Junto con su rendimiento en 3 aspectos - bajo ruido de fondo, 40M de longitud de registro y 75.000 wfms/s de velocidad de actualización de forma de onda, la serie XDS orgullosamente integra registrador de datos, multímetro, generador de forma de onda, DSO, y más en 1 dispositivo, a través de su módulo WiFi para compartir los datos de medición.
Características Principales
- aDC de alta resolución de 12 bits como máximo, restaurando completamente el detalle de la forma de onda
- ancho de banda máximo de 200 MHz, velocidad de muestreo de hasta 2GS/s
- bajo ruido de fondo, sensibilidad vertical en 1 mV/div - 10 V/div
- basado en la plataforma tecnológica de tercera generación - Xvisual
- función de multidisparador y decodificación de bus
- funciona como n-in-1 : registrador de datos, multímetro, generador de forma de onda,
y osciloscopio de almacenamiento digital
- LCD de alta resolución de 800 x 600 de 8 pulgadas
- pantalla multitáctil disponible
- paquete de baterías opcional y soporte para módulo WiFi
Aplicación en:
depuración de circuitos electrónicos
diseño y fabricación
prueba de circuitos
educación y formación
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