Sistema de medición de birrefringencia Exicor® PV-Si
de infrarrojosreforzado

sistema de medición de birrefringencia
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Características

Magnitud física
de birrefringencia
Tecnología
de infrarrojos

Descripción

Durante la producción de paneles solares de Si, la tensión en los cristales de Si a menudo no se detecta durante el proceso de fabricación. Hinds Instruments ha desarrollado un instrumento de birrefringencia de tensión para medir lingotes de Si, ya sean cuadrados o cultivados, antes de que se corten en obleas. Cuando este instrumento se utiliza como herramienta de control de calidad, se pueden identificar los lingotes o segmentos de Si de baja calidad antes de que se produzcan los costes de procesamiento posteriores. Además, este instrumento proporciona a los cultivadores de cristales de Si una herramienta con la que mejorar la calidad de los lingotes de Si para que puedan producir obleas más finas con una baja pérdida de rendimiento mecánico. El sistema de medición de birrefringencia por infrarrojo cercano Exicor® 500 Si Ingot de Hinds Instruments es una extensión de la plataforma de trabajo de la familia de productos del sistema de medición de birrefringencia Exicor. Este sistema emplea moduladores fotoelásticos simétricos de alta calidad, un láser de 1550 nm y un detector de fotodiodo de avalancha de Ge para permitir mediciones de birrefringencia de alta precisión para materiales de Si utilizados tanto en la industria fotovoltaica como en la de semiconductores. Además del Si, materiales como el zafiro, el carburo de silicio, el seleniuro de zinc y el sulfuro de cadmio también pueden medirse con este sistema. El modelo 500 Si Ingot es robusto y versátil, construido para sostener y medir una longitud de 500 mm de lingote en bruto hasta diámetros de 8 pulgadas. El diseño del sistema y el intuitivo software de escaneo automatizado hacen de este producto la mejor opción para la mejora de materiales, los esfuerzos de I+D y la evaluación diaria de lingotes de Si en bruto, así como de otros materiales de alta tecnología. Características: Sensibilidad sin precedentes en la medición de birrefringencia de bajo nivel Medición simultánea de la magnitud y el ángulo de birrefringencia Repetibilidad de precisión

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Catálogos

Exicor® PV-Si
Exicor® PV-Si
2 Páginas
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