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Analizador de espesor de revestimiento FT160
de aleaciónbenchtopFluorescencia de rayos X

analizador de espesor de revestimiento
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Características

Objeto de la medición
de aleación
Mesurando
de espesor de revestimiento
Configuración
benchtop
Otras características
Fluorescencia de rayos X

Descripción

Diseñado para afrontar el reto de los revestimientos ultrafinos, como los que se encuentran en los componentes electrónicos que se encogen hoy en día, el FT160 produce resultados rápidos, precisos y repetibles, aumentando la productividad y reduciendo los costes de los revestimientos fuera de especificación en los PCB, semiconductores y micro conectores, etc. Fácil de usar, el equipo se integra fácilmente con su proceso de QA/QC, alertándole de los problemas antes de que se conviertan en una crisis El alto rendimiento que ofrece el FT160 es posible gracias a la óptica policapilar y al detector de fluorescencia de rayos X de vanguardia de alta precisión que lleva en su interior. Una gran mesa de muestras, una puerta de amplia apertura y una ventana de observación sustancial facilitan la carga de piezas de diverso tamaño y la concentración en los puntos de medición. El software de control recientemente diseñado permite realizar pruebas mejoradas y precisas y los resultados se capturan convenientemente en una base de datos para su exportación. La vista previa de las muestras y la selección de los puntos de medición se hace más clara y fácil gracias a la nueva cámara de observación de muestras de alta definición y a la mejora de la iluminación.

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VÍDEO

Catálogos

* Los precios no incluyen impuestos, gastos de entrega ni derechos de exportación. Tampoco incluyen gastos de instalación o de puesta en marcha. Los precios se dan a título indicativo y pueden cambiar en función del país, del coste de las materias primas y de los tipos de cambio.