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Microscopio SEM TM4000 series
para análisisde medidaspor contraste de número atómico

microscopio SEM
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Características

Tipo
SEM
Aplicaciones técnicas
para análisis, de medidas
Técnica de observación
por contraste de número atómico, por topografía
Configuración
de mesa, compacto
Tipo de detector
de electronos retrodispersados, de electrones secundarios
Otras características
sencillo de instalar, con cámara digital, de alta resolución, automatizado, de tratamiento de imágenes, económico, motorizado, para las ciencias de la tierra, para nanotecnología, para uso en aire o líquido, para topografía, con función de perfilometría, de barrido con presión variable, para integración en microscópios y perfilómetros, para identificación de amianto, para muestras planas, de fuerte contraste, para muestras pulidas, de gran aumento
Aumento

Máx.: 25.000.054 unit

Mín.: 10 unit

Peso

54 kg
(119 lb)

Largo

614 mm, 617 mm
(24,2 in, 24,3 in)

Ancho

330 mm
(13 in)

Altura

547 mm
(21,5 in)

Descripción

La serie TM4000 presenta innovación y tecnologías de vanguardia que redefinen las capacidades de un microscopio de mesa. Esta nueva generación de microscopios de sobremesa Hitachi (TM) de larga tradición integra facilidad de uso, imagen optimizada y alta calidad de imagen, al tiempo que mantiene el diseño compacto de los productos de la serie TM de Hitachi. Experimente la nueva dimensión de los microscopios de mesa con los Hitachi TM4000 II y TM4000Plus II. Se puede obtener una imagen de calidad con sencillos pasos. Automatización, observación y análisis elemental Fácil cambio de imágenes con un solo clic. Rápida adquisición de mapas elementales * Muestra : Movimiento del reloj Funcionamiento intuitivo en Camera Navi * El uso de imágenes ópticas ayuda a navegar hasta el área de observación objetivo fácilmente. Las imágenes SEM obtenidas pueden superponerse a una imagen SEM MAP. Creador de informes Simplemente seleccione imágenes y una plantilla para crear informes personalizados. Los informes creados se pueden guardar/editar en formatos de Microsoft Office®. Varias aplicaciones de creación de imágenes que utilizan el estado de bajo vacío 4under. Modo de reducción de carga La carga de una muestra puede reducirse con un solo clic. Obtenga imágenes de diversos materiales en condiciones de bajo vacío Las imágenes muestran observaciones de muestras no conductoras, como partículas de tóner de tinta y la superficie de una hoja hidratada. Innovador detector de selección secundaria para obtener detalles de la superficie con muestras no conductoras en condiciones de bajo vacío El TM4000Plus II puede observar no sólo muestras conductoras, sino también muestras no conductoras o hidratadas sin preparación de la muestra. El cambio entre EEB y SE puede realizarse fácilmente.

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Ferias

Este distribuidor estará presente en las siguientes ferias

36th Control 2024
36th Control 2024

23-26 abr. 2024 Stuttgart (Alemania) Stand 7103

  • Más información
    The Advanced Materials Show

    15-16 may. 2024 Birmingham (Reino Unido)

  • Más información

    Otros productos de Hitachi High-Tech Europe GmbH

    Electron Microscopes (SEM/TEM/STEM)

    * Los precios no incluyen impuestos, gastos de entrega ni derechos de exportación. Tampoco incluyen gastos de instalación o de puesta en marcha. Los precios se dan a título indicativo y pueden cambiar en función del país, del coste de las materias primas y de los tipos de cambio.