Sistema de supervisión de temperatura E-LIT

de mediciónde cámara infrarrojade alta eficacia

Solución de Pruebas Electrónicas / Semiconductoras - E-LIT * Análisis térmico de dispositivos electrónicos y semiconductores * Banco de pruebas modular para la medición de cierres en línea * Detección fiable de anomalías térmicas en la gama mK y μK * Localización espacial de defectos en placas de circuito impreso multicapa y módulos multichip * Uso de sistemas termográficos con detectores refrigerados y no refrigerados * Software de manejo IRBIS® 3 activo con amplias posibilidades de análisis en condiciones de laboratorio E-LIT - Sistema automatizado de solución de pruebas que permite la inspección de fallas sin contacto del material semiconductor durante el proceso de fabricación. Distribución de temperatura no homogénea, la pérdida de potencia local puede medirse con la termografía de bloqueo. Esto se consigue utilizando los tiempos de medición más cortos combinados con una cámara termográfica de alto rendimiento y un procedimiento de bloqueo especializado. La fuente de alimentación para este proceso se registra con un módulo de sincronización y se detectan de forma fiable los fallos que producen mK o incluso μK diferencias. Los defectos más pequeños como derivaciones de punto y línea, fallas de óxido, fallas de transistores y diodos en una superficie de PCB y en IC´s pueden ser detectados y mostrados en las posiciones x e y. Además, es posible analizar paquetes de matrices apiladas o módulos multichip en dirección z con sólo cambiar la frecuencia de enclavamiento. Ventajas del banco de pruebas modular - Medición de bloqueo en línea con la más alta sensibilidad - Análisis microscópico completo y detallado - Resolución geométrica de hasta 1,3 μm por píxel con lentes de microscopio - Resolución térmica en la gama de microkelvinas - Análisis multicapa - Escaneo automático de muestras más grandes gracias a la mecánica de precisión