Método innovador de preparación de muestras para TEM / STEM / SEM / EPMA / AUGER
El Ion Slicer puede preparar muestras de película fina sin disolventes ni productos químicos y no requiere ningún tratamiento previo de la muestra más que el corte rectangular (sin esmerilado de discos ni esmerilado de hoyuelos).
El Ion Slicer prepara muestras de película fina de forma más rápida y sencilla que las herramientas de preparación convencionales. Un haz de iones Ar de baja energía y bajo ángulo irradia la muestra, mientras que una fina cinta de protección permite una irradiación de bajo ángulo del haz de iones Ar (de 0° a 6°), reduciendo drásticamente el daño de la irradiación del haz de iones a la muestra. El resultado es una película fina de alta calidad con pocos artefactos de sputtering, incluso en materiales blandos. El Ion Slicer puede preparar eficazmente películas delgadas a partir de muestras con diferentes composiciones, incluso las que tienen compuestos porosos.
Los aspectos más destacados son
- Pre-tratamiento TEM de alta calidad
- Preparación rápida
- Sin pretratamientos complicados
- Mínimo daño a la superficie
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