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Microscopio EDX PSE
para inspección de materialcorrelativo

Microscopio EDX - PSE - JOMESA Meßsysteme - para inspección de material / correlativo
Microscopio EDX - PSE - JOMESA Meßsysteme - para inspección de material / correlativo
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Características

Tipo
EDX
Aplicaciones técnicas
para inspección de material
Otras características
correlativo

Descripción

Microscopía correlativa: Combinación de datos ópticos y de SEM SEM con EDX: JOMESA PSE -Lectura de información de partículas de la base de datos -Análisis SEM-EDX rápido de partículas seleccionadas -Opcional: Análisis completo o análisis de todas las partículas ópticas -Almacena los resultados en la base de datos

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Traducción automática  (ver el original en inglés)

Otros productos de JOMESA Meßsysteme

PRODUCT

* Los precios no incluyen impuestos, gastos de entrega ni derechos de exportación. Tampoco incluyen gastos de instalación o de puesta en marcha. Los precios se dan a título indicativo y pueden cambiar en función del país, del coste de las materias primas y de los tipos de cambio.
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