Acelere los estudios de investigación, fiabilidad y análisis de fallos de dispositivos semiconductores, materiales y desarrollo de procesos con el 4200A-SCS. Es el analizador de parámetros de mayor rendimiento y ofrece mediciones sincronizadas de corriente-tensión (I-V), capacitancia-tensión (C-V) e I-V pulsadas ultrarrápidas.
Visión paramétrica, rápida y clara.
Avanzar en sus audaces descubrimientos nunca ha sido tan fácil. El analizador de parámetros 4200A-SCS reduce el tiempo que transcurre desde la configuración hasta la ejecución de las pruebas de caracterización hasta en un 50%, lo que permite una capacidad de medición y análisis sin concesiones. Además, la experiencia en mediciones integrada proporciona una guía de pruebas inigualable y una confianza suprema en las mediciones resultantes.
Aspectos destacados
Hardware de medición avanzado para tipos de medición I-V de CC, C-V e I-V pulsada
Comienzo inmediato de las pruebas con cientos de pruebas de aplicación modificables por el usuario incluidas en el software Clarius
Funciones automatizadas de extracción de parámetros en tiempo real, gráficos de datos y análisis
Caracterización C-V precisa
Mida femtofaradios de un solo dígito con la unidad de capacitancia-tensión (CVU) más reciente de Keithley, la 4215-CVU. Al integrar una fuente de CA de 1 V en la arquitectura CVU líder del sector de Keithley, la 4215-CVU ofrece mediciones de capacitancia de bajo ruido a frecuencias de 1 kHz a 10 MHz.
Aspectos destacados
Primer medidor C-V de su clase capaz de manejar una fuente de tensión alterna de 1 V
resolución de frecuencia de 1 kHz de 1 kHz a 10 MHz
Mide capacitancia, conductancia y admitancia
Medición en hasta cuatro canales con el multiswitch 4200A-CVIV
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