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Sistema de prueba para semiconductores S530 series
de alta tensiónde tensión mediade baja tensión

Sistema de prueba para semiconductores - S530 series - Keithley Instruments - de alta tensión / de tensión media / de baja tensión
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Características

Aplicaciones
para semiconductores
Otras características
de alta tensión, de tensión media, de baja tensión

Descripción

Las tecnologías actuales de semiconductores analógicos y de potencia, incluidos los dispositivos de banda prohibida ancha como GaN y SiC, requieren pruebas paramétricas que maximicen el rendimiento de las mediciones, permitan una comercialización más rápida, admitan una amplia gama de productos y minimicen el coste de las pruebas. Keithley responde a estos y otros retos importantes en aplicaciones críticas de todo el flujo de trabajo con soluciones de producción de alta velocidad y soluciones de prueba totalmente personalizables. Soluciones de pruebas de producción de alta velocidad Las aplicaciones incluyen monitorización de control de procesos de semiconductores (PCM), test TEG y clasificación de matrices - La capacidad de pruebas en paralelo maximiza el rendimiento de las pruebas - Medición de kV a fA en un solo toque de sonda para aumentar aún más la productividad - Calibración a nivel de sistema ISO-17025 - Migración sin problemas desde los sistemas de prueba heredados, incluida la reutilización de la tarjeta de sonda - Bajo coste de propiedad (COO)

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Catálogos

* Los precios no incluyen impuestos, gastos de entrega ni derechos de exportación. Tampoco incluyen gastos de instalación o de puesta en marcha. Los precios se dan a título indicativo y pueden cambiar en función del país, del coste de las materias primas y de los tipos de cambio.