Sistema de prueba para semiconductores

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Las tecnologías actuales de semiconductores analógicos y de potencia, incluidos los dispositivos de banda prohibida ancha como GaN y SiC, requieren pruebas paramétricas que maximicen el rendimiento de las mediciones, permitan una comercialización más rápida, admitan una amplia gama de productos y minimicen el coste de las pruebas. Keithley responde a estos y otros retos importantes en aplicaciones críticas de todo el flujo de trabajo con soluciones de producción de alta velocidad y soluciones de prueba totalmente personalizables. Soluciones de pruebas de producción de alta velocidad Las aplicaciones incluyen monitorización de control de procesos de semiconductores (PCM), prueba de TEG y clasificación de matrices La capacidad de pruebas en paralelo maximiza el rendimiento de las pruebas Medición de kV a fA en un solo toque de sonda para aumentar aún más la productividad Calibración a nivel de sistema ISO-17025 Migración sin problemas desde los sistemas de prueba heredados, incluida la reutilización de la tarjeta de sonda Bajo coste de propiedad (COO)