Los sensores de medición por interferencia 3D de la serie WI-5000 capturan una imagen tridimensional de áreas objetivo de hasta 10 x 10 mm (0,39″ × 0,39″) en tan solo 0,13 segundos. El sensor registra simultáneamente 80 000 puntos de datos de altura en toda la superficie para realizar mediciones de alta precisión de altura, coplanaridad e incluso rugosidad superficial (Sa y Sz). Al utilizar interferometría de luz blanca para capturar imágenes, el sensor puede emplear la medición coaxial de superficies, lo que elimina las zonas muertas que impiden una medición precisa en ranuras y otras formas con cambios bruscos de altura. El principio de medición permite realizar mediciones 3D precisas y repetibles en prácticamente cualquier tipo de superficie, incluidos los objetivos transparentes o espejados. Si bien su velocidad lo hace ideal para mediciones en línea, también se dispone de un soporte ajustable, lo que permite a los usuarios aprovechar las mismas mediciones rápidas y automáticas tanto para inspecciones en línea como fuera de línea.
Mediciones de rugosidad sin contacto realizadas en línea
Presentamos el sensor de medición por interferencia 3D de la serie WI-5000 para la medición instantánea de la altura de la superficie. Realiza mediciones en línea tanto de la rugosidad lineal como de la rugosidad superficial.
• Rugosidad superficial (Sa/Sz)
• Rugosidad lineal (Ra/Rz)
Medición de área, no de puntos ni de líneas
Mide instantáneamente 80 000 puntos en un área máxima de medición de 10 × 10 mm (0,39" × 0,39"). Gracias a los principios de la interferometría de luz blanca, la serie WI-5000 no se ve afectada por el tipo de material, el color ni los puntos ciegos, lo que permite realizar mediciones de alta precisión a nivel de micras.
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