Perfilómetro láser VK-X4000

óptico3Dconfocal

Resumen
La serie VK-X4000 es un microscopio de perfilado óptico 3D que integra confocal láser, interferometría de luz blanca (WLI) y variación de enfoque en una única plataforma metrológica para mediciones no contactas y de alta precisión de superficies y topografías. El sistema admite rutinas multipunto automatizadas y detección multi-rasgo para aumentar el rendimiento reduciendo la configuración manual.

Características clave

• Tres principios de medida en un solo equipo: Confocal láser, WLI y Focus Variation para amplia cobertura de materiales y geometrías.
• Medición multipunto automatizada: definir coordenadas y aumentos objetivo para mediciones por lotes sin supervisión.
• Medición automática de múltiples características: identificación de rasgos objetivo y aplicación automática de condiciones de medición para resultados consistentes.
• AI-Analyzer: evalúa decenas de parámetros de superficie para resaltar las métricas que mejor diferencian muestras, agilizando el análisis.
• Alta versatilidad: apto para metales, películas, plásticos, semiconductores, componentes médicos y otros materiales.

Principios de medida y ventajas

• Confocal láser: eficaz para formas complejas y materiales variados, proporcionando datos 3D localizados en geometrías difíciles.
• Interferometría de luz blanca (WLI): ofrece resolución vertical subnanométrica para detalles de superficie muy finos y mediciones de espesor precisas.
• Focus Variation: captura textura fina en áreas mayores y complementa otros métodos cuando la transparencia o la pendiente limitan el rendimiento.

Medición multipunto / Automatización

• Configure múltiples puntos de medición seleccionando objetivos; el sistema gestiona automáticamente el posicionamiento y la selección de objetivos ópticos.
• Ejecute mediciones por lotes en varias muestras y zonas sin configuraciones manuales repetidas, reduciendo tiempos de ciclo y variabilidad del operador.

AI-Analyzer / Análisis de rugosidad
El AI-Analyzer compara numerosos parámetros de superficie (p. ej., Ra, Rz y métricas ISO estándar) para identificar qué parámetros distinguen mejor las muestras, simplificando la selección de métricas de rugosidad y acelerando la interpretación de resultados.

Aplicaciones y beneficios

• Perfilado 3D de superficies y análisis de rugosidad para electrónica, mecanizado de precisión, películas y recubrimientos, dispositivos médicos, plásticos y más.
• Permite inspección de alto rendimiento con rutinas automatizadas y reproducibles para control de calidad y estudios comparativos.
• Combina métodos de medida complementarios para abordar prácticamente cualquier superficie, desde películas lisas hasta geometrías rugosas y complejas.

Especificaciones técnicas

• Denominación comercial: VK-X4000 series
• Principios de medida: Confocal láser, Interferometría de luz blanca (WLI), Focus Variation
• Resolución vertical WLI: subnanométrica (para detalles de superficie muy finos)
• Medición multipunto: selección de coordenadas automatizada y medición por lotes en muestras
• AI-Analyzer: comparación automatizada de múltiples parámetros de superficie para detectar diferencias clave
• Medición automática de múltiples características: aplicación automática de condiciones de medición a características identificadas
• Materiales adecuados: metales, películas, plásticos, componentes semiconductores, piezas médicas, etc.
• Casos de uso principales: perfilado 3D de superficies, análisis de rugosidad, evaluación de espesor de película, análisis comparativo de superficies, inspección automatizada de alto rendimiento