Sensor de desplazamiento lineal SI-F series

sin contactolásercon salida digital

Medidor de Desplazamiento Láser de Interferencia Espectral Micro-Head [El mejor de su clase] Resolución 1nm (0,00004 mil) [El más pequeño del mundo] Tamaño del microcabezal: ø2 mm (ø0,08") [Primero en la industria] Principio de medición: Método de interferencia espectral Presentamos el primer microcabezal del mundo, con la mayor precisión de medición de su clase y un nivel de rendimiento que antes se consideraba imposible. Estos sensores de microcabezal pueden utilizarse para medir el grosor y el alabeo de objetos de alta precisión, como las obleas de silicio. Resolución ultra alta de 1 nm Método de interferencia espectral que permite una resolución de 1 nm. Variaciones de cabezal que amplían la gama de mediciones posibles La gama incluye cabezales ultrapequeños, de largo alcance y otros especializados para adaptarse a una gran variedad de aplicaciones. Elimina las causas de los errores de medición El cabezal de medición consta únicamente de fibras ópticas y lentes, sin componentes electrónicos.