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Indentador para ensayo de dureza Nano Indenter® G200X

Indentador para ensayo de dureza - Nano Indenter® G200X - KLA Corporation
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Características

Aplicaciones
para ensayo de dureza

Descripción

El Nano Indenter G200X proporciona un comprobador mecánico a nanoescala fácil de usar que proporciona rápidamente resultados precisos y cuantitativos. El sistema G200X incluye nuestro sistema de movimiento de mayor rendimiento, el mayor sistema de montaje de muestras y nuestro microscopio óptico de alta resolución. Nuestro software InView, el controlador iQWave2 y los actuadores InForce ofrecen los mismos resultados de alto rendimiento en toda la gama de productos. Las opciones del sistema G200X incluyen la medición continua de la rigidez (CSM), la microscopía de sonda de barrido, los ensayos de rayado, los barridos de frecuencia, las mediciones eléctricas, los ensayos de alta velocidad y los ensayos de impacto. Características Actuador electromagnético para lograr el alto rango dinámico en fuerza y desplazamiento Microscopio óptico de alta resolución y sistema de movimiento XYZ de precisión para visualizar, posicionar y orientar las muestras. Bandeja de muestras de fácil montaje con múltiples posiciones de muestras para ensayos de alto rendimiento. Opciones modulares para ensayos más allá de la indentación para imágenes SPM, ensayos de rayado, mediciones de nanoindentación a alta temperatura, ensayos dinámicos (CSM) y ensayos de alta velocidad. Interfaz intuitiva para una configuración rápida de los ensayos; los parámetros de ensayo pueden modificarse con unos pocos clics del ratón Control experimental en tiempo real, desarrollo de protocolos de ensayo y configuración de ensayos sencillos. Paquete completo de software InView, incluidos ReviewData e InFocus, para el análisis de datos y la creación de informes. Pruebas galardonadas de alta velocidad para mapas de propiedades de materiales y mayor confianza estadística. electrónica de control de alta velocidad iQWave2 con velocidad de adquisición de datos de 100 kHz y constante de tiempo de 16 µs. Aplicaciones Mediciones de dureza y módulo a alta velocidad (Oliver-Pharr)

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