Sistema de medición de rugosidad

angularpara calibraciónautomático

Este sistema es para la medición de la reflexión de ángulo completo en 2D, incluyendo el análisis de la superficie de las muestras o la reflectancia especular de la película que promueven la capacidad de medición automática en la dispersión multiangular y su dependencia de la longitud de onda. Este sistema también puede aplicarse a la medición de la reflectancia de la superficie, la rugosidad de la superficie y el análisis del grosor de la película, etc de la película, etc. Con el diseño de la plataforma giratoria para ampliar en 3D la reflexión de ángulo completo y el sistema de medición difusa o la reflexión, la transmisión, y el sistema de absorbencia que por lo general se aplica en el semiconductor, 2D o 30 material, fotoconductor, la energía solar, LED, panel. revestimiento y las industrias relativas. Características - Rango espectral medible: 380~1100nm, 280~1050nm, 900~1600nm - Función de calibración automática - Medición de reflectancia de un solo incidente y ángulo de reflexión por control de programa - Medición de reflectancia de un solo ángulo de incidencia y reflexión por control de programa} - Medición de la reflectancia en un rango específico de ángulos de incidencia y reflexión por control de programa - Medición y análisis de la dependencia de la medición de la relación de reflexión/difusión con respecto a la longitud de onda - Realización del cálculo del espesor de la película de una sola capa - Registro de la base de datos para el seguimiento del historial - El sistema puede ampliarse para medir la transmisión y la absorbancia - Con la plataforma giratoria para medir la reflexión de ángulo completo en 3D y la curva de reflexión difusa Aplicación en otros campos: - Medición del espectro de una muestra de metamaterial bajo diferentes polarizaciones - Medición del espectro de la dependencia del ángulo en la película anisotrópica o muestra cristalina