Sistema de medición de espesor de revestimiento

de pesode rayos Xautomático

Tipo O-frame Medición de la densidad superficial del sustrato del cátodo y del ánodo Los rayos X pueden medir simultáneamente el grosor de la zona de adelgazamiento del borde Control de calidad del revestimiento del ánodo/cátodo El dispositivo de medición de densidad superficial por rayos X/beta (peso base) es un sistema de medición en línea sin contacto que se utiliza principalmente para medir la densidad superficial, detectar la consistencia de la densidad superficial, medir el grosor de la zona de adelgazamiento (tecnología patentada por Reechi), supervisar la capacidad del proceso de producción y controlar el proceso de recubrimiento de electrodos para baterías de litio en la producción de baterías. La tecnología de rayos X se utiliza para controlar el revestimiento de los sustratos del electrodo negativo (cátodo) + ánodo, mientras que la tecnología beta mide el revestimiento del electrodo positivo (ánodo). Productos destacados Reproducibilidad del revestimiento del cátodo ± 0,03 g/m² Reproducibilidad del revestimiento del ánodo ± 0,05 g/m² Los rayos X también pueden medir simultáneamente el grosor de las zonas de adelgazamiento de los bordes Ventajas para el cliente Menos rechazos: La detección precoz de fallos reduce el desperdicio de material y los costes. Eficacia: Los procesos optimizados aumentan la productividad. Mejora continua: Optimización continua de los productos existentes. Menos reclamaciones: Los productos de alta calidad generan menos reclamaciones.