Perfilómetro con interferometría de luz blanca MarSurf3D MS SX

3Dconfocalinterferométrico

Resumen
La MarSurf3D MS SX Platform es un sistema de metrología 3D de superficies basado en área y multisensor que integra confocal, interferometría en luz blanca y variación de enfoque en una sola cabeza de medida. La plataforma SX está optimizada para piezas pequeñas con recorridos/axes de hasta 200 mm y permite análisis de superficie hasta el rango de nanómetros inferiores.

Tecnologías combinadas clave
Confocal: La tecnología confocal multi-pinhole patentada permite capturas de imagen ultra-rápidas con alta calidad de señal y gran repetibilidad en superficies desde lisas hasta rugosas.

Interferometría: La interferometría en luz blanca ofrece resolución vertical sub-nanométrica independiente de la magnificación — ideal para superficies muy lisas y medición ultra-precisa de alturas de paso.

Variación de enfoque: La técnica de variación de enfoque está diseñada para medir la geometría de superficies grandes y rugosas. Registra inclinaciones pronunciadas (hasta ~86°) y proporciona un amplio rango de medida vertical en una sola pasada.

Tareas de medición típicas

• Mediciones de rugosidad (ISO 21920 / ISO 4287 & ISO 13565 / ISO 25178)
• Mediciones de topografía y análisis de volumen (desgaste, tribología)
• Medición de contorno y forma (2D & 3D)
• Análisis de poros y partículas
• Detección de defectos
• Alturas de paso y características superficiarias ultrafinas hasta el rango de nanómetros inferiores

Calidad máxima de datos
El sistema está diseñado para ofrecer alta precisión, exactitud, repetibilidad y reproducibilidad con documentación completa para asegurar trazabilidad y auditabilidad. Proporciona valores de medida cuantitativos adecuados para ingeniería, diseño de producto y proceso y control de calidad.

Aspectos destacados del producto

• Medición precisa y reproducible: registro fiable de datos de medición que garantiza alta precisión de datos brutos y perfiles.
• Amplio rango de piezas: medición independiente del material en superficies reflectantes, absorbentes, opacas o transparentes.
• Manejo intuitivo: interfaz guiada con modos automáticos y protocolos de medición para flujos de trabajo repetibles.

Ref. / Identificación
Número de artículo: 6350029

Especificaciones técnicas

• Denominación / familia de producto: MarSurf3D MS SX Platform
• Marca: Mahr
• Núm. de artículo: 6350029
• Tamaño de pieza previsto: recorridos/axes hasta 200 mm
• Tecnologías de medida integradas: Confocal (multi-pinhole), Interferometría en luz blanca, Variación de enfoque
• Resolución vertical: rango sub-nanométrico (nivel interferometría)
• Superficies aplicables: desde muy lisas (escala nm) hasta muy rugosas; registra inclinaciones pronunciadas hasta ~86° (variación de enfoque)
• Tareas típicas: rugosidad (ISO 21920 / ISO 4287, ISO 13565 / ISO 25178), topografía, contorno/forma 2D & 3D, análisis de poros/partículas, detección de defectos, medición de alturas de paso
• Interfaz de usuario: modos automáticos guiados y soporte de protocolos de medición para operación repetible
• Casos de uso: metrología de superficie 3D basada en área para piezas pequeñas a medianas, inspección de laboratorio y producción de alta precisión