Micrómetro láser XLS.XY PLUS
de barridopara la medición de diámetros internos2 ejes

Micrómetro láser - XLS.XY PLUS  - MARPOSS - de barrido / para la medición de diámetros internos / 2 ejes
Micrómetro láser - XLS.XY PLUS  - MARPOSS - de barrido / para la medición de diámetros internos / 2 ejes
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Características

Tipo
láser, de barrido
Medición realizada
para la medición de diámetros internos
Especificaciones
2 ejes
Resolución

0,01 µm, 0,1 µm, 1 µm, 10 µm

Descripción

Gracias a su potente electrónica integrada, los micrómetros XLS pueden utilizarse como sensores de diámetro inteligentes e independientes. Si se programan con un software específico y se completan con unidades de visualización externas y paneles de operador, pueden convertirse en el núcleo de sistemas de medición y control láser específicos para el control en línea de una gran variedad de productos diferentes. Los micrómetros XLS pueden conectarse directamente a un PC, PLC o NC a través de una línea de interfaz estándar Ethernet o RS232 o RS485. Cualquier unidad electrónica equipada con una interfaz de este tipo puede obtener de forma sencilla lecturas de diámetro precisas y rápidas: el usuario puede introducir los datos de medición en su propio programa, para realizar cualquier tarea específica. Gracias a esta característica, los medidores XLS son sensores de diámetro ideales para clientes OEM, integradores de sistemas o para aplicaciones a gran escala.

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Ferias

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EMO 2025
EMO 2025

22-26 sept. 2025 Hannover (Alemania)

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