ProductoEtapa de escaneo de precisión SCAN IM 100 x 45 para microscopios invertidos, diseñada para aplicaciones de materiales y compatible con la serie Leica DMI
Información adicional- mesa de escaneo para microscopios invertidos
- para aplicaciones en materiales
- recorrido: 100 x 45 mm
- paso del husillo de bolas: 2 mm
- apertura de la platina: 160 x 130 mm
- diseño plano y ergonómico
- para Leica DMI 3000-6000 / DMi8
- sin inserto de platina
Fichas técnicas- 31-24-433-0000_SCAN_IM_100_45_EN.pdf
- 31-24-433-0000_SCAN_IM_100_45_DE.pdf
Características / Especificaciones técnicas- Número de pieza: 31-24-433-0000
- Tipo: mesa de escaneo para microscopios invertidos
- Aplicación: aplicaciones en materiales
- Recorrido: 100 x 45 mm
- Paso del husillo de bolas: 2 mm
- Apertura de la platina: 160 x 130 mm
- Diseño: plano y ergonómico
- Compatible con: Leica DMI 3000-6000 / DMi8
- Inserto de platina: sin inserto