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Platina de posicionamiento XY EK 75 x 50 MR
de control manualmanual2 ejes

Platina de posicionamiento XY - EK 75 x 50 MR - Märzhäuser Wetzlar - de control manual / manual / 2 ejes
Platina de posicionamiento XY - EK 75 x 50 MR - Märzhäuser Wetzlar - de control manual / manual / 2 ejes
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Características

Orientación
XY
Tipo
de control manual, manual
Número de ejes
2 ejes
Otras características
de medición, para microscopio
Carrera

Máx.: 75 mm
(2,953 in)

Mín.: 50 mm
(1,969 in)

Descripción

Descripción del producto
  • Mesa de medición manual con sistema de medición integrado.


Número de artículo
  • 00-22-321-0000


Información adicional
  • mesa de medición manual
  • con sistema de medición integrado
  • superficie CERASIST® sin desgaste
  • accionamiento coaxial ajustable en recorrido y fricción para una manipulación ergonómica
  • para aplicaciones en luz reflejada y transmitida
  • suministrada con portaobjetos para portaobjetos 76 x 26 mm
  • incluye unidad de visualización PROFILER SCD


Accesorios
  • PROFILER SCD
  • portaobjetos


Microscopios compatibles
  • Leica - DM2500 (microscopios verticales)
  • Nikon - Eclipse 50i (microscopios verticales)
  • Nikon - Eclipse 55i (microscopios verticales)
  • Nikon - Eclipse 80i (microscopios verticales)
  • Nikon - Eclipse E400 (microscopios verticales)
  • Nikon - Eclipse E600 (microscopios verticales)
  • Nikon - Eclipse LV100D / LV100DA (microscopios verticales)
  • Olympus - BX41 (microscopios verticales)
  • Olympus - BX41M (microscopios verticales)
  • Olympus - BX51 (microscopios verticales)
  • Olympus - BX51M (microscopios verticales)
  • Olympus - BX61 (microscopios verticales)
  • Olympus - BX61M (microscopios verticales)
  • Zeiss - Axio Imager (microscopios verticales)
  • Zeiss - Axioskop (microscopios verticales)
  • Leica - DM4 B (microscopios verticales)
  • Leica - DM4 M (microscopios verticales)
  • Leica - DM6 M (microscopios verticales)
  • Leica - DM6 B (microscopios verticales)
  • Zeiss - Axio Scope.A1 HAL 100 (microscopios verticales)
  • Zeiss - Axio Scope.A1 HAL 50 + LED (microscopios verticales)


Hojas de datos
  • 00-22-321-0000_EK_75_50_MR_DE.pdf
  • 00-22-321-0000_EK_75_50_MR_EN.pdf


Características / Especificaciones técnicas
  • Modelo: EK 75 x 50 MR
  • Número de artículo: 00-22-321-0000
  • Mesa de medición manual con sistema de medición integrado
  • Superficie CERASIST® sin desgaste
  • Accionamiento coaxial ajustable en recorrido y fricción
  • Para aplicaciones en luz reflejada y transmitida
  • Suministrada con portaobjetos para portaobjetos 76 x 26 mm
  • Incluye unidad de visualización PROFILER SCD

Catálogos

EK 75 x 50 MR
EK 75 x 50 MR
1 Páginas

Ferias

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SPIE Photonics West San Francisco 2027
SPIE Photonics West San Francisco 2027

30 ene. - 04 feb. 2027 San Francisco (USA - California)

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