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Interferómetro para medición de distancia interferoMETER 5400-DS
ópticocompactode luz blanca

Interferómetro para medición de distancia - interferoMETER 5400-DS - MICRO-EPSILON - óptico / compacto / de luz blanca
Interferómetro para medición de distancia - interferoMETER 5400-DS - MICRO-EPSILON - óptico / compacto / de luz blanca
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Características

Aplicaciones
para medición de distancia
Especificaciones
óptico, compacto, de alta precisión, de alta resolución, de luz blanca

Descripción

Resumen
El interferoMETER IMS5400-DS es un interferómetro de luz blanca para la medición absoluta de distancia y desplazamiento en entornos industriales. El sistema ofrece mediciones absolutas con resolución nanométrica, un desplazamiento de base relativamente grande y evaluación multipeak para estructuras transparentes y multicapa.

Características clave
  • Mediciones absolutas de distancia con precisión nanométrica, aptas para inspección de perfiles escalonados
  • Medición multi-peak para objetos transparentes (hasta 14 valores de distancia simultáneos en modelos MP)
  • Sensores compactos y robustos, disponibles con recorrido del haz a 90°
  • Alta frecuencia de medida hasta 6 kHz para procesos de alta velocidad
  • Controlador robusto con refrigeración pasiva y posibilidad de montaje en carril DIN
  • Configuración sencilla mediante interfaz web (sin instalación de software)
  • Longitudes de fibra óptica hasta 10 m para separación sensor/controlador
  • Integración industrial flexible con múltiples interfaces y E/S


Funcionamiento / Rendimiento
El IMS5400-DS realiza mediciones absolutas de distancia con resolución nanométrica y permite la evaluación multipeak para identificar múltiples superficies reflectantes en muestras transparentes o estratificadas. Las altas velocidades de adquisición (hasta 6 kHz) y un punto de medida reducido (≈10 µm) posibilitan mediciones estables de perfiles y detalles finos, incluso en piezas en movimiento. El controlador garantiza una operación estable mediante refrigeración pasiva y compensación activa de temperatura; la puesta en marcha y parametrización se realizan vía interfaz web.

Especificaciones técnicas
  • Principio de medida: interferometría de luz blanca (medición absoluta de distancia)
  • Resolución/Precisión: mediciones absolutas en el rango nanométrico; linealidad típica ±50 nm (según modelo)
  • Capacidad multipeak: hasta 13–14 valores de distancia simultáneos (según modelo)
  • Frecuencia de medida: hasta 6 kHz
  • Diámetro del punto: típicamente ≈10 µm
  • Desplazamiento de base: relativamente grande para diseño compacto; variantes 90° disponibles
  • Controlador: carcasa metálica robusta, refrigeración pasiva, montaje en carril DIN; funciones de evaluación inteligentes
  • Configuración: interfaz web (sin software cliente requerido)
  • Interfaces: Ethernet, EtherCAT, RS422, salidas analógicas, entrada de sincronización, E/S digitales, entrada de encoder; PROFINET/EtherNet/IP mediante módulos opcionales
  • Separación sensor-controlador: cables de fibra óptica hasta 10 m
  • Aplicaciones típicas: medición de distancia/desplazamiento de alta precisión, control de perfiles, medición de espesor en vidrio, integración en líneas de producción y entornos de sala limpia/vacío (versiones VAC/UHV disponibles)
* Los precios no incluyen impuestos, gastos de entrega ni derechos de exportación. Tampoco incluyen gastos de instalación o de puesta en marcha. Los precios se dan a título indicativo y pueden cambiar en función del país, del coste de las materias primas y de los tipos de cambio.