Aparato de pruebas para la industria del automóvil M2 DS6 Pulsar

de corrientede funcionamientode cortocircuito

Pruebe dispositivos de banda prohibida ancha, como MOSFET de SiC, JFET, semipuentes y diodos, según normas de calidad de automoción como AEC-Q101 y AQG 324. DS6 Pulsar realiza pruebas dinámicas de interruptores a altas corrientes de hasta 7.500 A en las fases de fabricación de KGD, discretos y módulos. Las velocidades de conmutación ultrarrápidas de DS6 Pulsar recrean las condiciones de tensión de alta corriente que experimentarán los dispositivos durante el funcionamiento en automoción Una interfaz de controlador de base dura garantiza velocidades de giro rápidas, formas de onda con amortiguación crítica e inductancia de prueba parásita de 20-40 nH normalmente. La tecnología SocketSafeTM protege la celda de prueba en caso de que un dispositivo falle de forma catastrófica durante la prueba, lo que resulta perfecto para las tecnologías de potencia de banda prohibida ancha y permite enviar productos conformes de la máxima calidad RENDIMIENTO - SUPERANDO LOS LÍMITES DE LAS PRUEBAS Pruebas de cortocircuito de hasta 7.500 A, diseñadas específicamente para aplicaciones de automoción, que simulan situaciones de estrés reales como disparos. La interfaz de acoplamiento rígido permite conectar el dispositivo bajo prueba más cerca de la estación de prueba, minimizando la inductancia parásita. inductancia parásita típica de 20-40 nH para velocidades de conmutación ultrarrápidas con un sobreimpulso mínimo. Esto mejora significativamente los tiempos de rampa de prueba sin riesgo de que la sobretensión supere los límites del dispositivo FLEXIBILIDAD DE PRUEBA Rentable y eficiente, invierta en DS6 Pulsar para realizar una amplia gama de pruebas en una plataforma de hardware. Se puede redistribuir fácilmente a otros manipuladores y tipos de DUT con sólo cambiar la tarjeta hija de interfaz SEGURIDAD SocketSafe™ tecnología de vanguardia de protección contra sobrecorriente (OCP), protege la celda de prueba general durante eventos de falla dentro de 300 ns