Microscopio AFM Alphacen 300

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El AFM de escaneo de punta para muestras grandes y pesadas de hasta 300 mm -Sistema estándar de AFM - Etapa de muestra de 300 mm x 300 mm - Ideal para muestras de hasta 45 kg Nanosurf es el líder del mercado en sistemas desarrollados a medida para muestras grandes y pesadas. Durante los últimos años nuestro equipo ha construido una base de conocimiento sustancial desarrollando estas etapas personalizadas para varios clientes. Utilizando este vasto conocimiento, hemos desarrollado un producto estándar para muestras grandes de hasta 300 mm o muestras pesadas de hasta 45 kg. El Alphacen 300 reduce el precio y el tiempo de entrega en comparación con un sistema personalizado. Ejecutar series de mediciones automatizadas El Alphacen 300 incluye un potente software de automatización que permite al usuario preseleccionar los lugares de interés, ya sea en una imagen óptica o en un mapa del escenario, y dejar que el sistema recoja las imágenes sin intervención del usuario. Muestras de vidrio pesado La mayoría de los AFM de muestras grandes son capaces de manejar muestras planas de hasta 200 mm, típicamente orientadas al análisis de obleas de semiconductores. Sin embargo, una de las limitaciones de estos sistemas es el peso de la muestra que pueden manejar. Alphacen 300 responde a la necesidad de un AFM estándar capaz de visualizar muestras grandes y pesadas con un límite de peso de hasta 45 kg. El recorrido de la etapa Z de 50 mm también permite la obtención de imágenes de muestras que no son obleas de silicio delgadas. Las muestras grandes y pesadas son bastante comunes en la industria óptica, por ejemplo en la producción de grandes lentes y en la industria de los semiconductores, por ejemplo en casetes ensamblados o productos terminados.