Micrómetro de espesor OptiMike™

ópticosin contactode precisión

Resumen
El micrómetro óptico OptiMike ofrece medición directa, unilaterial y sin contacto del espesor para láminas no metálicas y productos de película gruesa en procesos en línea. La técnica óptica no se ve afectada por el color, la densidad, el brillo ni la transparencia. Una matriz de LED proyecta un haz sobre el vértice del material apoyado en un rodillo de referencia de precisión y baja excentricidad; una matriz micrométrica CCD detecta la interrupción del haz (superficie superior) con resolución submicrón. Un sensor de corrientes de Foucault integrado mide la distancia sensor–rodillo y los datos se combinan para calcular el espesor total en tiempo real.

Características principales

• Medición sin contacto, unilaterial, adecuada para aplicaciones en línea sobre web
• Tecnología no nuclear (sin fuente radiactiva)
• Inmune al color, densidad, brillo o transparencia del producto
• Posibilidad de integración con sensores de peso para cálculo de densidad
• Diseño orientado a facilitar el mantenimiento e integración en la línea

Técnica de medición
El sensor proyecta luz mediante una matriz LED a través del vértice del producto sobre un rodillo de referencia de baja excentricidad. En el lado opuesto, una matriz micrométrica CCD localiza el borde de sombra para determinar la posición de la superficie superior con precisión submicrón. Un sensor integrado de corrientes de Foucault mide la distancia al rodillo; el sistema fusiona lecturas CCD y de corrientes para proporcionar espesor absoluto en línea para control de proceso y aseguramiento de calidad.

Aplicaciones

• Extrusión de película y lámina
• Producción de hojas de espuma
• Transformación de caucho y plástico
• Hojas calandradas y webs recubiertas
• No tejidos y textiles técnicos
• Materiales para cierres de gancho y bucle
• Compuestos y laminados
• Control de web en industria del tabaco

Características / especificaciones técnicas

• Método de medición: óptico (matriz LED + micrómetro CCD) combinado con referencia por corrientes de Foucault
• Tipo de medición: medición directa, unilaterial, en línea para procesos sobre web
• Materiales compatibles: láminas no metálicas, películas, espumas, no tejidos, compuestos
• Resolución: detección de superficie superior en rango submicrón (CCD)
• Elemento de referencia: rodillo de precisión con baja excentricidad
• Integración: compatible con sensores de peso y sistemas de control de proceso
• Tipo de medidor: micrómetro óptico no-contacto, no nuclear