Tarjeta E/S digital PE32D
PXIcon 32 salidas digitalescon 32 entradas digitales

tarjeta E/S digital
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Características

Tipo de señal
digital
Formato
PXI
Número de entradas/salidas
con 32 salidas digitales, con 32 entradas digitales, 16 entradas digitales, 16 salidas digitales
Tamaño
3U
Otras características
programable, compacta

Descripción

El PE32D representa un nuevo nivel de rendimiento y capacidades para la instrumentación digital basada en PXI. Basado en la arquitectura probada del PE32, el PE32D ofrece una electrónica de pines de alto rendimiento y un generador de temporización mejorado en un factor de forma PXI compacto de 3U. Cada tarjeta puede funcionar como un subsistema digital de 32 canales o como dos comprobadores de sitios de 16 canales. La PE32D también soporta una memoria de patrones profunda ofreciendo 32 M de memoria vectorial a bordo con control dinámico por dirección de pines y con velocidades de prueba de hasta 33 MHz. El PE32T soporta -1 ~ +7 VOH VOL VIH VIL por canal y 4 PMU por placa. El PE32D ofrece 16 conjuntos de temporización, 2 TG Edges de driver, 1 TG Edges de strobe. se admiten 2 conjuntos de formatos, que cambian sobre la marcha, y cuatro formatos de datos de accionamiento: RTZ (Return To Zero), RTO (Return To One), NRZ (Non Return To Zero), SBC (Surround By Complement) que pueden proporcionar flexibilidad para crear una variedad de ciclos de bus y formas de onda para probar productos a nivel de placa y caja. Dos TMU de 100MHz y 32 bits para la medición de de frecuencia y tiempo. Memoria a bordo El PE32D ofrece 32 M de memoria vectorial por canal. Tiempos de ciclo de patrón programables hasta 232 o infinitos. Dispone de símbolos de patrón que incluyen 0, 1, L, H, X, Z, J, Q. Compatibilidad Todas las tarjetas PXI de OpenATE Interfaces cumplen con la especificación PXI 2.0 (publicada en agosto de 2000) Software La PE32D se suministra con API y Pattern Editor. Pattern Editor es una herramienta de software que edita los patrones de prueba. Aplicación - Equipos de prueba automáticos (ATE) - Pruebas funcionales digitales de consumo - Generación de patrones digitales - Pruebas de dispositivos de gestión de la energía - Pruebas de CI híbridos y digitales

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