IMOS permite la medición precisa, cuantitativa, conforme a la norma ISO, de superficies sin contacto y la caracterización de características superficiales a micro y nano escala, capturando hasta dos millones de puntos de datos en sólo segundos. La elección del sistema de perfilómetro óptico adecuado depende de los requisitos de su aplicación, incluyendo velocidad, precisión, alcance vertical, automatización y flexibilidad.
El perfilador óptico de superficie IMOS ofrece una gran versatilidad en el perfilado óptico de superficie sin contacto. Con el sistema, es fácil y rápido medir una amplia gama de tipos de superficies, incluyendo lisas, rugosas, planas, inclinadas y escalonadas. Todas las mediciones son no destructivas, rápidas y no requieren ninguna preparación especial de las muestras. En el centro del sistema se encuentra la interferencia de la tecnología de luz parcialmente coherente que proporciona mediciones de precisión sub-nanométrica en un rango más amplio de superficies con mayor precisión que otras tecnologías disponibles en el mercado, optimizando así el retorno de la inversión.
Rendimiento, valor y versatilidad:
El perfilador IMOS ofrece un valor excepcional con aplicaciones tan variadas como planitud, rugosidad y ondulación, alturas de paso y más
El perfilador IMOS está equipado con un cabezal de zoom que puede ser poblado con ópticas de zoom discretas hechas a medida para el sistema. Las configuraciones de la puesta en escena de las muestras van desde completamente a totalmente automatizadas con recorrido codificado.
Este sistema universal ofrece mediciones de alta precisión, facilidad de uso y mediciones rápidas, todo ello a un precio atractivo que lo convierte en la opción ideal por su versatilidad y valor en los perfiladores ópticos 3D.
Resolución Z en el modo de nanorrelieve:
~ 30 pm (con espejo atómico)
~ 0.3 μm en el modo de microrrelieve;
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