El innovador enfoque de la OSTEC para el diseño del sistema de los espectrómetros Raman asegura una temperatura extremadamente alta y la estabilidad temporal de las mediciones espectrales.
Todos los componentes del sistema RAMOS e200 están totalmente integrados en un microscopio óptico, lo que permite la compactación y movilidad del sistema
La tecnología de OSTEC aplicada en el RAMOS e200 sobre la base de microscopios ópticos de grado de investigación permite la realización de los siguientes métodos de microscopía de luz
- Mediciones Raman
- La luz transmitida
- Luz reflejada (iluminación de campo brillante y campo oscuro)
- Microscopía confocal
- Medidas de fluorescencia
- Contraste de polarización e imágenes de contraste de fase
- Contraste de interferencia diferencial
Características
Imágenes confocales láser 2D y 3D simultáneas y Raman con ahorro de espectro completo en cada punto
Modos de operación del escáner de trama rápida y de arranque y parada
La óptica de alto rendimiento asegura una sensibilidad del sistema superior y una alta relación señal-ruido (relación S/N)
Amplio rango espectral, máxima precisión de las mediciones del desplazamiento del Raman, alta resolución espectral
Cambio rápido de la configuración del sistema (cambio de láser y filtros) sin necesidad de una alineación adicional del sistema
Fuente de excitación: Láser incorporado de 473 nm o 532 nm, es posible la conexión de láseres externos adicionales de 455 nm, 633 nm, 785 nm
Rango espectral: 50 - 8500 cm-1 (láser de 532 nm)
Resolución espectral (para láser de 532 nm): 1 cm-1/pixel (rejilla 2400 gr/mm) 2 cm-1, FWHM (rejilla 2400 gr/mm)
Número de rejillas: 2 rejillas, 4 opcionalmente
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