OSTEC proporciona el diseño modular de los sistemas de la NIOS que permite a los usuarios finales configurar un probador nanomecánico específicamente para sus necesidades y requerimientos. Las configuraciones del probador nanomecánico de la NIOS pueden consistir en los siguientes módulos:
- Nanoindentador de amplio rango
- Microscopio óptico
- Microscopio de fuerza atómica
- Probador nanomecánico de escaneo
- Medición de las propiedades eléctricas
- Sensor de fuerza lateral
- Imágenes de topografía in situ
- Etapa de calentamiento
- Perfilador óptico confocal
El NIOS Compact está diseñado para la investigación de las propiedades mecánicas de la superficie de pequeñas muestras. Este dispositivo utiliza los métodos de microscopía de sonda de barrido, indentación instrumentada y rayado con un rango de carga de hasta 100 mN. Este modelo está destinado al estudio de las propiedades físicas y mecánicas a escala dimensional lineal submicrónica y nanométrica
Todas las mediciones de la NIOS se realizan en un entorno abierto (es decir, sin el uso de un tratamiento especial de vacío o de calor). Los instrumentos de la NIOS están diseñados con características y funcionalidades que permiten su uso para aplicaciones de investigación e industriales.
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