Sistema de escáneo láser VS-SECM

electroquímico

El SECM integra un sistema de colocación, un bipotentiostat, y una punta de prueba o una extremidad del ultramicroelectrode. El sistema de colocación mueve la punta de prueba cerca de la superficie de la muestra, dentro de la zona local de la proyección de imagen. El bipotentiostat puede polarizar la punta de prueba solamente (modo de la reacción) o la muestra y la punta de prueba independientemente (modo del generador-colector), mientras que mide las corrientes resultantes. La punta de prueba se diseña especialmente para tener un pulimento afilado específico (por el ratio de RG) y radio activo debajo de 100 micrones. Los análisis del sistema de colocación la punta de prueba y la posición de las cartas con los parámetros electroquímicos medidos, creando un mapa de datos de la corriente local. El acercamiento curva (modo de la reacción) se utiliza como los medios electroquímicos por los cuales colocar la punta de prueba en Z suficientemente cerca de la muestra para estar en la zona local de la proyección de imagen. Un voltaje de DC se aplica a la punta de prueba, mientras que se traza la respuesta actual de DC mientras que la punta de prueba se incrementa hacia la muestra. Cuando la punta de prueba es suficientemente cerca de la muestra (una distancia de 2-4 veces que del diámetro de la punta de prueba) la corriente medida en las transiciones de la extremidad de una respuesta a granel a una respuesta local. Sobre una región de alta conductividad, una respuesta de Nernstian proporciona una corriente local aumentada sobre la de la corriente a granel. Sin embargo, actual local se disminuye en relación con el valor a granel sobre áreas de la conductividad baja de la muestra mientras que el masa-transporte se obstaculiza a la punta de prueba.