ZSX Primus 400
El espectrómetro exclusivo de Rigaku ZSX Primus 400 de fluorescencia de rayos X de dispersión por longitud de onda secuencial (WD-XRF) fue diseñado específicamente para manejar muestras muy grandes y/o pesadas. Aceptando muestras de hasta 400 mm de diámetro, 50 mm de espesor y 30 kg de masa, este sistema es ideal para el análisis de blancos de sputtering, discos magnéticos, o para la metrología de películas multicapa o el análisis elemental de muestras grandes.
XRF con sistema de adaptador de muestra personalizado
Teniendo la versatilidad para adaptarse a sus tipos específicos de muestras y necesidades de análisis, este espectrómetro WDXRF es adaptable a varios tamaños y formas de muestras usando adaptadores opcionales (hechos a la medida). Con un punto de medición variable (de 30 mm a 0,5 mm de diámetro, con selección automática de 5 pasos) y capacidad de mapeo con mediciones multipunto para comprobar la uniformidad de la muestra, este instrumento excepcionalmente flexible puede agilizar drásticamente sus procesos de control de calidad.
XRF con cámara disponible e iluminación especial
La cámara opcional en tiempo real permite ver el área de análisis dentro del software. El operador tiene total certeza de lo que se está midiendo.
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