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Sistema de inspección con semiconductor
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Sistema de inspección con semiconductor - SAMIL TECH CO., LTD - automático / para de hilo
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Características

Tecnología
con semiconductor
Especificaciones
automático
Uso previsto
para de hilo

Descripción

Especificación de prueba Inspección de la altura del bucle: ±50μm Especificación de prueba Inspección de la altura de la viruta: ±10μm Utilidad AC220V, trifásico, 60Hz

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Traducción automática  (ver el original en inglés)

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