Sistema de control no destructivo por rayos X EFPscan-2000

EFPscan-2000 es adecuado para la detección tomográfica 3D rápida y de alta resolución de muestras de placas de gran superficie EFPscan-2000 es un sistema de ensayo de rayos X en 3D para el campo de PCBA e IGBT. Adopta el modo de exploración de laminografía computarizada (CL) avanzada y el algoritmo de reconstrucción y puede utilizarse en línea y fuera de línea para probar toda la placa. Es adecuado para probar dispositivos electrónicos como BGA/LGA, conector pressfit, Flip chip, PoP, QFN, PTH e IGBT para encontrar defectos como poros, circuitos abiertos, puentes, cabeza en almohadilla, humectación deficiente, piezas faltantes y piezas incorrectas dentro del dispositivo. ●La imagen CT más rápida de un área FOV completada en 5 segundos ●Integridad y alta resolución para muestras de placas de gran tamaño ●Proceso de escaneo programable para simplificar la carga de trabajo de los operadores ●Dedicado algoritmo de identificación automática para contar cuantitativamente los defectos dentro del dispositivo