Analizador de nitrógeno DF-750

de oxígenode hidrógenode vigilancia

El DF-750 es la opción líder en análisis de humedad para la industria de semiconductores El DF-750 es un analizador de humedad de trazas/ultra trazas optimizado para mediciones en los gases de pureza ultra alta (UHP) utilizados en las fábricas de semiconductores de 300 mm. Mediciones de trazas/ultra trazas TDL de alta estabilidad Una solución sin compromisos Mantenimiento sencillo y costes corrientes reducidos Diseñado específicamente para realizar mediciones de trazas y ultratrazas de humedad en una gama de gases UHP, el DF-750 está optimizado para fábricas de semiconductores de 300 mm. Mide la humedad como contaminante en los gases de grado electrónico nitrógeno, hidrógeno, helio, argón y oxígeno. La tecnología de detección de láser de diodo sintonizable (TDL) proporciona un límite de detección inferior (LDL) de 100 partes por trillón (ppt), líder en el sector, lo que garantiza que las mediciones estables y de alta precisión del DF-750 satisfagan las necesidades de control preciso de la producción de semiconductores. El robusto DF-750 requiere poco mantenimiento durante toda su vida útil y ofrece una estabilidad de deriva cero, lo que amplía considerablemente los intervalos de calibración. Este bajo coste de propiedad, combinado con un rendimiento de medición excepcional, convierte al DF-750 en la solución analítica de primera elección para las comprobaciones de calidad de gases UHP. Mediciones de trazas/ultra-trazas TDL de alta estabilidad El DF-750 está diseñado para cumplir los excepcionales estándares de pureza de gases exigidos por los fabricantes de semiconductores de todo el mundo. Utilizando la tecnología de detección TDL más avanzada, alojada en una célula Herriot robusta y resistente, el DF-750 evita el contacto de la humedad con los componentes ópticos de detección. El resultado es un analizador que ofrece una medición ultrasensible de