Espectrómetro EDXRF EDX-8100
de fluorescencia de rayos X por dispersión de energíaXRFpara la industria de los semiconductores

Espectrómetro EDXRF - EDX-8100 - Shimadzu France - de fluorescencia de rayos X por dispersión de energía / XRF / para la industria de los semiconductores
Espectrómetro EDXRF - EDX-8100 - Shimadzu France - de fluorescencia de rayos X por dispersión de energía / XRF / para la industria de los semiconductores
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Características

Tipo
EDXRF, de fluorescencia de rayos X por dispersión de energía, XRF
Sector
para la industria de los semiconductores, para análisis elementales, para instalación fotovoltaica, para la industria electrónica
Configuración
de mesa
Tipo de detector
SDD
Otras características
de alta sensibilidad, de alta resolución
Largo

46 cm
(18,11 in)

Ancho

59 cm
(23,23 in)

Alto

36 cm
(14,17 in)

Descripción

Resumen
El EDX-8100 es un espectrómetro de fluorescencia de rayos X por dispersión de energía (EDXRF) diseñado para análisis elemental rutinario y avanzado de sólidos, polvos, líquidos y películas delgadas. Combina una gran cámara de muestras con un tamaño de instalación reducido y admite modos de medida con purga de helio y vacío para mejorar la detección de elementos ligeros en líquidos.

Características
  • Aplicaciones
    • Análisis de materiales eléctricos y electrónicos, cribado RoHS y halógenos
    • Análisis de películas delgadas para semiconductores, discos, cristales líquidos y células solares
  • Diseño funcional
    • Gran cámara de muestras con anchura instalada reducida (aprox. 20 % menor que el modelo anterior)
  • Software PCEDX Navi
    • Interfaz gráfica con flujos de trabajo simplificados para usuarios noveles y opciones avanzadas para analistas experimentados
  • Capacidades analíticas
    • Detector Silicon Drift (SDD) y hardware optimizado para alta sensibilidad, análisis rápidos y mejor resolución energética
    • Compatibilidad con detección de elementos ligeros, con sensibilidad mejorada en líquidos mediante purga de helio
  • Flexibilidad de muestras
    • Acepta muestras de pequeño a gran tamaño, polvos, líquidos y películas delgadas
    • Opciones: unidad de purga de helio y unidad de medición al vacío
  • Funciones de cuantificación
    • Método de curva de calibración y herramientas integrales de cuantificación para análisis rutinarios y especializados

Videos (ejemplos)
  • Série EDX-7000/8000 — demostración de capacidades del instrumento y aplicaciones típicas
  • Análisis de piedras preciosas naturales vs. imitación — ejemplo de análisis de elementos ligeros con EDX-8000/8100

Especificaciones
  • Tipo de instrumento: espectrómetro EDXRF de bancada
  • Modelo: EDX-8100
  • Detector: Silicon Drift Detector (SDD)
  • Fuente de rayos X: tubo Rh; rango de tensión típico 4 kV – 50 kV
  • Refrigeración: refrigeración por aire (sin nitrógeno líquido)
  • Rango de medida: elementos ligeros hasta uranio (según modelo)
  • Opciones: unidad de purga de helio, unidad de medición al vacío, kit de cribado RoHS, cambiador automático de muestras
  • Manipulación de muestras: gran cámara de muestras; admite polvos, líquidos, películas finas y sólidos de diversos tamaños
  • Software: PCEDX Navi para operación simplificada y funciones avanzadas de análisis
  • Cuantificación: método de curva de calibración, opciones por parámetros fundamentales y otras funciones de cuantificación
  • Dimensiones (aprox.): 46 cm x 59 cm x 36 cm; Peso (aprox.): 45 kg

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