Descripción generalEl sistema de tomografía computarizada (CT) por rayos X de sobremesa XSeeker 8000 combina una fuente microfocal con un detector plano de alta resolución en un formato compacto. Con una potencia de rayos X de hasta 160 kV y una resolución de entrada máxima de 5,6 millones de píxeles, el sistema permite inspecciones internas detalladas de piezas plásticas y metálicas y se adapta a flujos de trabajo de inspección en producción.
Características principales- Sistema CT microfocal de sobremesa con formato compacto
- Potencia de rayos X: hasta 160 kV
- Detector plano de alta resolución para imágenes detalladas
- Resolución máxima de entrada: 5,6 millones de píxeles
- Software de control XSeeker que mejora la operatividad y el rendimiento
- Operación optimizada para inspecciones: uso sencillo y alto rendimiento
- Calidad de imagen y funcionalidades comparables a modelos de gama alta
- Funciones de seguridad diseñadas para proteger al usuario y garantizar una operación segura
Aplicaciones- Observación interna detallada de piezas plásticas moldeadas
- Inspección y análisis de piezas de aluminio fundido a presión y otros componentes metálicos
- Soporte para desarrollo de producto y evaluación de calidad
- Inspecciones en máquinas y en producción que requieren alto rendimiento
Características / especificaciones técnicas- Tipo de modelo: sistema CT microfocal de sobremesa
- Potencia de rayos X: hasta 160 kV
- Detector: detector plano de alta resolución
- Resolución máxima de entrada: 5,6 millones de píxeles
- Capacidad de imagen: imágenes de alta precisión comparables a modelos de gama alta
- Software: XSeeker (control para operatividad y alto rendimiento)
- Materiales objetivo: plásticos moldeados, piezas de aluminio fundido a presión, diversos componentes metálicos
- Diseño: formato compacto para instalación de sobremesa
- Enfoque operativo: funciones optimizadas para inspecciones y alto rendimiento
- Seguridad: características que apoyan la seguridad del usuario y la operación segura