Difractómetro de rayos X ADX-2500

de solo cristal

ADX-2500 difracción de rayos X (XRD) está diseñado para su aplicación en la medición de microestructuras, pruebas e investigaciones en profundidad. Con diferentes accesorios y el correspondiente software de control y cálculo, ADX-2500 XRD es un sistema de difracción de acuerdo con los requisitos prácticos en muchos campos. El difractómetro de rayos X ADX-2500 permite analizar la estructura de muestras monocristalinas, policristalinas y amorfas. ADX-2500 Difracción de Rayos X es capaz de lo siguiente: análisis cualitativo de fase y análisis cuantitativo (RIR, calibración de estándar interno, calibración de estándar externo, criterio aditivo), indexación de patrón, determinación y refinamiento de celda unitaria, determinación de tamaño de cristalito y deformación, ajuste de perfil y refinamiento de estructura, determinación de tensión residual, análisis de textura (ODF expresa figura de polo tridimensional), estimación de cristalinidad a partir de áreas de pico, análisis de película delgada y otros. Características - Perfecta incorporación del hardware y software, permite a ADX-2500 difracción de rayos X para realizar diferentes tipos de análisis para los investigadores de diversos campos; - Alta precisión de la medición del ángulo de difracción permite ADX-2500 difracción de rayos X para obtener los datos más exactos; - La mayor estabilidad del sistema de control del generador de rayos X proporciona una excelente precisión de medición; - El diseño simple y eficaz hace que ADX-2500 XRD sea conveniente para la operación y fácil de usar. Software Procesamiento general de datos de difracción: búsqueda automática de picos, búsqueda manual de picos, intensidad integral, separación de Kα1, α2, eliminación de fondo, suavizado y ampliación de patrones, trazado múltiple,