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Tarjeta controlador FGPA S-TEST UTBde LVDS
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Características
- Formato
- FGPA
- Bus
- de LVDS
Descripción
Placa de aplicación universal para pruebas eficientes a nivel de sistema (SLT) de sensores digitales, pruebas de caracterización de sensores o pruebas finales en la producción en serie de sensores.
Datos seleccionados
Rango de tensión de alimentación: -2 V...+20 (25)1) V
Corriente de alimentación: hasta ±50 (20)1) mA/fuente
12.resolución de temporización de 5 ns
Control de velocidad de giro (1 V/μs...8,3 V/ms)
Características
FPGA rápida para FW y núcleos IP de interfaz de host
Soporte para SPI, I²C, JTAG, SENT, PSI5, CAN-FD2), LIN, ZACwire™
16 pines de E/S libremente programables
4 fuentes de alimentación independientes
Funcionalidad de disparo externo
Interfaz de placa base LVDS rápida
Interfaz de funciones especiales para ampliación de hardware personalizada
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