Hacerse expositor
*mydirectindustry  
Español
  1. Metrología - Laboratorio
  2. Metrologia y Ensayos
  3. Sistema de prueba para semiconductores
  4. Teradyne

Sistema de prueba para semiconductores Magnum V
automático

Sistema de prueba para semiconductores - Magnum V - Teradyne - automático
Sistema de prueba para semiconductores - Magnum V - Teradyne - automático
Añadir a mis favoritos
Añadir al comparador

Características

Aplicaciones
para semiconductores
Otras características
automático

Descripción

El sistema Magnum V de Teradyne ofrece un alto rendimiento y una alta eficiencia de prueba paralela para pruebas de NAND Flash y memorias DRAM de ultra alto rendimiento. - Alto rendimiento y eficiencia de prueba paralela - Diseñado para pruebas de memoria NAND Flash y DRAM de ultra alto rendimiento Características clave: - Soporta dispositivos de memoria NAND Flash y DRAM avanzados - Optimizado para entornos de fabricación de alto volumen - Arquitectura escalable para futuras tecnologías de memoria - Alto paralelismo para maximizar la eficiencia de las celdas de prueba - Cobertura de prueba integral para productos de memoria de próxima generación Aplicaciones: - Prueba de memoria NAND Flash - Prueba de memoria DRAM Especificaciones técnicas: - Sistema: Magnum V - Tipos de prueba: NAND Flash, DRAM - Alto rendimiento y paralelismo - Escalable para futuras tecnologías de memoria

Otros productos de Teradyne

Memory Test

Ver todos los productos de Teradyne
* Los precios no incluyen impuestos, gastos de entrega ni derechos de exportación. Tampoco incluyen gastos de instalación o de puesta en marcha. Los precios se dan a título indicativo y pueden cambiar en función del país, del coste de las materias primas y de los tipos de cambio.