Microscopio para batería Phenom ParticleX

SEMpara análisispara control de calidad

Microscopio electrónico de barrido de sobremesa para la producción e investigación de baterías. Análisis de materiales avanzados para baterías MEB de sobremesa Phenom diseñado para el análisis de materiales de baterías En la producción e investigación de baterías, la calidad de los materiales es cada vez más crítica. Pequeños contaminantes en el polvo NCM, por ejemplo, pueden tener resultados desastrosos en el producto final. Para rastrear estos contaminantes de forma eficaz, se necesitan imágenes SEM de alta resolución con análisis EDS para química. Cuando está totalmente automatizada, esta combinación es una potente herramienta para la inspección de la calidad del polvo. Principales características del SEM de sobremesa Phenom ParticleX Battery Clasificaciones de conductancia Cada clase de partícula se puede etiquetar con una conductancia de las partículas, lo que le permite clasificar en función de la conductancia de las partículas. Esto le permite evaluar el impacto de la contaminación con mucha más precisión, ya que una pequeña contaminación orgánica no es tan grave como una contaminación metálica conductora. Diagrama ternario Para ver la química general de la población de partículas, se puede generar un diagrama ternario en el que estén representadas todas las partículas. Con Ni, Co y Mn en cada eje, se pueden ver al instante los outyears y las tendencias generales.