Espectrómetro ultravioleta Nexsa G2 XPS
de rayos Xde fotoelectrones emitidos por rayos Xde adquisición de datos

Espectrómetro ultravioleta - Nexsa G2 XPS - THERMO FISHER SCIENTIFIC - MATERIALS SCIENCE - de rayos X / de fotoelectrones emitidos por rayos X / de adquisición de datos
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Características

Tipo
de rayos X, de fotoelectrones emitidos por rayos X
Sector
de adquisición de datos
Otras características
automatizado

Descripción

El sistema de espectrómetro de fotoelectrones de rayos X (XPS) Thermo Scientific Nexsa G2 ofrece un análisis de superficies totalmente automatizado y de alto rendimiento, proporcionando los datos para avanzar en la investigación y el desarrollo o para resolver problemas de producción. Al integrar XPS con espectroscopia de dispersión de iones (ISS), espectroscopia de fotoelectrones UV (UPS), espectroscopia de pérdida de energía de electrones reflejados (REELS) y espectroscopia Raman, le permite realizar verdaderos análisis correlativos. El sistema incluye ahora opciones de calentamiento de muestras y capacidades de polarización de muestras para aumentar la gama de experimentos posibles. El sistema de análisis de superficies Nexsa G2 desbloquea el potencial de avances en ciencia de materiales, microelectrónica, desarrollo de nanotecnología y muchas otras aplicaciones. Características del sistema de análisis de superficies Nexsa G2 Fuente de rayos X de alto rendimiento Un nuevo diseño optimizado del monocromador de rayos X permite seleccionar un área de análisis de 10 µm a 400 µm en pasos de 5 µm, lo que garantiza la recogida de datos de la característica de interés al tiempo que se maximiza la señal. Óptica de electrones optimizada La lente de electrones de alta eficiencia, el analizador hemisférico y el detector permiten una excelente detectabilidad y una rápida adquisición de datos. Visualización de muestras XPS Enfoque las características de la muestra con el sistema de visualización óptica patentado del sistema de análisis de superficies Nexsa G2 y XPS SnapMap, que le ayuda a localizar rápidamente las áreas de interés. Análisis de aislantes XPS La fuente de inundación de doble haz patentada acopla haces de iones de baja energía con electrones de muy baja energía (menos de 1 eV) para evitar la carga de la muestra durante el análisis, lo que elimina la necesidad, en la mayoría de los casos, de referenciar la carga.

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