Sensor interferométrico NS-1

Se trata de un nuevo sistema de interferometría óptica que no está limitado por la precisión de los elementos ópticos o del objeto que se mide, basado en el hecho de que la estadística del campo de dispersión (moteado láser) generado cuando un objeto de superficie rugosa es irradiado por un láser es completamente aleatoria en un sentido estadístico. Aplicaciones previstas - Análisis del funcionamiento de componentes micromecánicos como los MEMS - Aplicaciones en las que no son aplicables las bandas extensométricas (medición de las características de deformación y deformación térmica de materiales poliméricos y piezas microunidas) - Muestras biológicas (medición del comportamiento en tiempo ultracorto del crecimiento de plantas, seguimiento de alta precisión del crecimiento de cultivos en fábricas de plantas, establecimiento de condiciones óptimas de cultivo) - Medición medioambiental (evaluación medioambiental mediante organismos vivos) Características - Medición de alta precisión: es posible realizar mediciones de orden subnanométrico (el sistema de medición viene determinado simplemente por el número de puntos de datos utilizados) - Medición sin contacto, no invasiva - Sistema óptico sencillo - No se requiere un punto de referencia absoluto para la medición (pueden utilizarse dos puntos cualesquiera) Láser - Longitud de onda: 660 nm Potencia máxima 90mW Clase 3B equivalente Diámetro del haz láser - Aprox. 1,0mm Intervalo del haz láser - Aprox. 3,0 mm Precisión de medición - ±1,0 nm PC y software - Se suministran como accesorios estándar Frecuencia de imagen: 2 fps Alimentación - Monofásica, AC100V, 50/60Hz, 5A Dimensiones - - W240 × D200 × H280mm (Unidad principal) - W390 × D320 × H200mm (Unidad de control) Peso (aprox.) - - 5kg (Unidad principal) - 6 kg (unidad de control)