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Instrumento de caracterización DXMOKE

Instrumento de caracterización - DXMOKE - Xiamen Dexing Magnet Tech. Co., Ltd.
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Instrumento de caracterización - DXMOKE - Xiamen Dexing Magnet Tech. Co., Ltd. - imagen - 2
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Descripción

Descripción general

La serie DXMOKE es una plataforma óptica integrada para la caracterización cuantitativa de la rotación y la elipticidad de Kerr en películas magnéticas finas, nanoestructuras magnéticas y dispositivos espintrónicos. Proporciona curvas de histéresis y parámetros magnéticos como campo coercitivo y campo de saturación, y se puede configurar para mediciones in-situ y criogénicas.

Características del sistema DXMOKE de efecto Kerr magneto-óptico de superficie
  • Modulación TTL de una fuente láser de bajo ruido para una excitación óptica estable.
  • Tubo fotodetector de alta sensibilidad para captar variaciones en la intensidad de la luz.
  • Amplificador lock-in para adquisición de señales bloqueadas en frecuencia y mejora de la relación señal/ruido.
  • Prestaciones de medida de bajo ruido, alta resolución y alta estabilidad térmica.
  • Ensamblaje óptico altamente integrado: montaje sencillo de la muestra y ajuste fino de la varilla para obtener la señal Kerr con mínima alineación.
  • Medición integrada del efecto Kerr y microscopio de observación de dominios magnéticos con resolución espacial de 6 µm.
  • Capacidad para mediciones in-situ en vacío y soporte para múltiples opciones de campo magnético y criogénicas.


Funciones básicas
  • Mediciones de bucle en un punto: configuraciones Kerr longitudinal, transverso y polar.
  • Mapeo de área: escenario XY de precisión para mapear MOKE en diferentes posiciones de la superficie de la muestra.
  • Rotación de 360° de la muestra o del campo magnético para determinar ejes de magnetización fáciles/difíciles y medir anisotropía.
  • Sujeción de muestra con interfaz eléctrica disponible para pruebas de acoplamiento magnetoeléctrico y medidas de transporte.
  • CCD de alta velocidad y microscopio integrados para observar la topografía de la superficie; con polarizador opcional permite detectar cambios de intensidad relacionados con el estado de polarización para obtener imágenes de dominios magnéticos.


Especificaciones técnicas
  • Resolución del ángulo de Kerr: < 0,001°.
  • Resolución de la elipse (elipticidad): < 0,1%.
  • Tamaño mínimo del punto: 10 µm.
  • Campo magnético máximo: 2,2 T (con la opción electroimán EM7).
  • Paso de ángulo de rotación: 0,1°.
  • Paso de desplazamiento XY: 10 µm.
  • Ruido: < 1%.
  • Opción criogénica: rango de temperatura 100 K – 300 K; precisión de control de temperatura ±0,01 °C; tiempo de enfriamiento hasta 100 K ≈ 30 min; velocidad de calentamiento 0,01 – 30 °C/min; muestra medida en vacío; ventana óptica de vidrio K9 para minimizar la rotación óptica inducida por el campo magnético.

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