Sistema de haz de iones focalizados ZEISS Crossbeam 340 & 540

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Descripción

El ZEISS Crossbeam 340 y el Crossbeam 540 son FIB-SEMs indicados para la nanotomografía y la nanofabricación. Utilizando Crossbeam, la imagen y el rendimiento analítico de la columna GEMINI pueden vincularse para la preparación de la muestra y el procesamiento del material a escala nanoscópica. Su bajo rendimiento en kV SEM puede combinarse con corrientes de FIB de hasta 100 nA para acelerar la nanotomografía y la nanofabricación. Dispone de una interfaz gráfica de usuario fácil de entender y los usuarios pueden beneficiarse de una estabilidad máxima y de un perfil de haz estándar, lo que hace que el dispositivo sea más fiable durante experimentos largos y complicados.

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Catálogos

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Global Industrie 2024
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25-28 mar. 2024 París Villepinte (Francia)

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    BIEMH 2024
    BIEMH 2024

    3-07 jun. 2024 Bilbao (España) Hall 6 - Stand C-10

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    * Los precios no incluyen impuestos, gastos de entrega ni derechos de exportación. Tampoco incluyen gastos de instalación o de puesta en marcha. Los precios se dan a título indicativo y pueden cambiar en función del país, del coste de las materias primas y de los tipos de cambio.