En un entorno de calidad industrial, análisis de fallos o investigación, el microscopio electrónico de barrido (SEM) es la solución de elección para aplicaciones de metalografía y análisis de fallos, debido a su capacidad para proporcionar imágenes de alta resolución y química elemental de alta resolución espacial.
Diseñado específicamente para aplicaciones de inspección y análisis de rutina, EVO puede ser operado tanto por microscopistas electrónicos expertos como no expertos por medio de una interfaz gráfica de usuario dedicada y simplificada.
Proporciona datos de alta calidad, especialmente para piezas no conductoras que no pueden ser recubiertas con una capa conductora debido a la necesidad de una inspección posterior.
EVO puede integrarse perfectamente en un flujo de trabajo multimodal, gracias a funciones como la reubicación semiautomática de regiones de interés y las soluciones de integridad de datos, en todos los sistemas, laboratorios o incluso ubicaciones.
SmartPI - la solución de análisis de partículas SEM automatizada y conforme a los estándares de ZEISS que permite la clasificación de partículas en base a la composición elemental - se implementa en EVO como una solución llave en mano para la limpieza industrial.
Con una amplia gama de tamaños de cámara, sistemas de vacío, tipos de emisores de electrones y opciones analíticas, el EVO puede adaptarse perfectamente a cualquier requisito de relación precio-rendimiento.
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