ZEISS Xradia 610 y 620 Versa
Microscopía de rayos X 3D para una imagen submicrónica más rápida de las muestras intáctas
Ir más allá de la exploración para lograr sus momentos de descubrimiento.
Desbloquee nuevos grados de versatilidad para su investigación científica e industrial con los modelos de microscopios de rayos X en 3D más avanzados de la familia ZEISS Xradia Versa.
Basándose en la mejor resolución y contraste de la industria, ZEISS Xradia 610 y 620 Versa amplía los límites de sus imágenes no destructivas a escala submicrónica.
Lo más destacado
Extendiendo los límites de las soluciones de micro y nanotecnología
Microscopía no destructiva a escala submicrónica de muestras intactas
Mayor flujo y escaneos más rápidos sin comprometer la resolución
Resolución espacial real de 500 nm con un tamaño de vóxel mínimo alcanzable de 40 nm
Alta resolución en una amplia gama de tipos de muestras, tamaños y distancias de trabajo
Imágenes in situ para la caracterización no destructiva de microestructuras en entornos controlados y a lo largo del tiempo
Actualizable y ampliable con futuras innovaciones y desarrollos
Rendimiento con calidad de imagen
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