Microscopio de rayos X Xradia series
de laboratorio3Din-situ

microscopio de rayos X
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Características

Tipo
de rayos X
Aplicaciones técnicas
de laboratorio
Técnica de observación
3D, in-situ
Otras características
de alta resolución
Resolución espacial

40 nm

Descripción

ZEISS Xradia 610 y 620 Versa Microscopía de rayos X 3D para una imagen submicrónica más rápida de las muestras intáctas Ir más allá de la exploración para lograr sus momentos de descubrimiento. Desbloquee nuevos grados de versatilidad para su investigación científica e industrial con los modelos de microscopios de rayos X en 3D más avanzados de la familia ZEISS Xradia Versa. Basándose en la mejor resolución y contraste de la industria, ZEISS Xradia 610 y 620 Versa amplía los límites de sus imágenes no destructivas a escala submicrónica. Lo más destacado Extendiendo los límites de las soluciones de micro y nanotecnología Microscopía no destructiva a escala submicrónica de muestras intactas Mayor flujo y escaneos más rápidos sin comprometer la resolución Resolución espacial real de 500 nm con un tamaño de vóxel mínimo alcanzable de 40 nm Alta resolución en una amplia gama de tipos de muestras, tamaños y distancias de trabajo Imágenes in situ para la caracterización no destructiva de microestructuras en entornos controlados y a lo largo del tiempo Actualizable y ampliable con futuras innovaciones y desarrollos Rendimiento con calidad de imagen

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Ferias

Este distribuidor estará presente en las siguientes ferias

Global Industrie 2024
Global Industrie 2024

25-28 mar. 2024 París Villepinte (Francia)

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    BIEMH 2024
    BIEMH 2024

    3-07 jun. 2024 Bilbao (España) Hall 6 - Stand C-10

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    * Los precios no incluyen impuestos, gastos de entrega ni derechos de exportación. Tampoco incluyen gastos de instalación o de puesta en marcha. Los precios se dan a título indicativo y pueden cambiar en función del país, del coste de las materias primas y de los tipos de cambio.