Microscopio óptico Visioner 1

de inspecciónpara control de calidadpara medición de la rugosidad superficial

Microscopía digital con tecnología MALS™, inspección óptica de enfoque completo en tiempo real Los sistemas clásicos de inspección ofrecen una profundidad de campo insuficiente. Esto significa que algunas partes de la muestra pueden no estar enfocadas, lo cual puede dar lugar a la omisión de algunas características, provocar fatiga en el usuario y generar lagunas en la inspección. ZEISS Visioner 1 revoluciona el mundo de la inspección óptica y la documentación. Está basado en el sistema de lentes de matriz de microespejos (tecnología MALSTM) y permite por primera vez la captura continua de imágenes de enfoque completo en tiempo real. Profundidad de campo extendida en tiempo real (EDoF) EDoF es un proceso en el que se combinan múltiples imágenes a través del plano focal para crear una imagen enfocada. Con los sistemas de microscopía clásica, esto puede ser complejo y llevar mucho tiempo. ZEISS Visioner 1 permite al usuario ver la muestra de enfoque completo en tiempo real, sin necesidad de z-stack ni de procesar posteriormente una serie de imágenes. La tecnología de sistema único de lentes de matriz de microespejos (MALS™) permite la profundidad de campo extendida en tiempo real (EDoF). Reformulando las reglas de la óptica Tecnología de sistema de lentes de matriz de microespejos (MALS™) MALS™ permite la inspección óptica enfocada con diferencias de altura de hasta 69 mm*. Sin necesidad de z-stack ni reenfoque. Mediante un sistema de lentes de matriz de microespejos (MALS™) podemos generar lentes "virtuales" con curvaturas notablemente distintas y, por ende, diferentes planos de enfoque.