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Skyray Instrument
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... Metales preciosos como el oro, el platino, la plata y diversas joyas; grosor del revestimiento de metal precioso Petroquímica, explotación de petróleo crudo, análisis de elementos líquidos y otros Contenido de azufre de muestras como gasolina y gasóleo ...
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... traza de metales pesados en los alimentos mediante el uso de la tecnología de fluorescencia de rayos X de energía dispersiva ( EDXRF) con los detectores más avanzados y fuente de excitación y otras configuraciones de hardware Irradiando ...
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... Aleaciones de cobre, aleaciones de hierro, aleaciones de níquel, etc. Características del producto: Tubo de rayos X de alta eficiencia con ventana ultrafina, avanzado internacionalmente en términos de rendimiento de ensayo Accesorios especiales para ...
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... Medición del contenido de oro, platino, plata y joyas diversas Medición del espesor del revestimiento metálico, análisis del contenido de la solución galvánica y del revestimiento Procesamiento de metales preciosos, procesamiento de joyas; bancos, venta ...
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Medidor por fluorescencia de rayos X robusto y económico para el análisis no destructivo de materiales y la medición de espesores de recubrimientos
HELMUT FISCHER GMBH - INSTITUT FÜR ELEKTRONIK UND
Medidor por fluorescencia de rayos X para un análisis rápido y no destructivo de aleaciones de oro y plata
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Medidor por fluorescencia de rayos X para la medición manual o automática de espesores de recubrimiento de capas funcionales, capas de protección anticorrosiva y piezas de fabricación en masa.
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Portátil, sobremesa o en línea: el instrumento XAN®500, basado en la fluorescencia de rayos X, es el equipo XRF más versátil de Fischer. Se puede utilizar tanto como un dispositivo portátil como una unidad de sobremesa totalmente cerrada o integrado directamente ...
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Sistema de medición por fluorescencia de rayos X para la medición en línea y el análisis continuados de recubrimientos delgados, como CIGS, CIS o CdTe en el proceso de producción
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Con ejes accionados por motor (opcional) y dirección de medición de arriba a abajo, los instrumentos de medición de la gama XDL® permiten pruebas en serie automatizadas. Gracias a las distintas versiones – que se diferencian por su fuente de rayos X, ...
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