Microscopios para análisis Jeol

1 empresa | 12 productos
{{#pushedProductsPlacement4.length}} {{#each pushedProductsPlacement4}}
{{product.productLabel}}

{{product.productLabel}} {{product.model}}

{{#if product.featureValues}}
{{#each product.featureValues}} {{content}} {{/each}}
{{/if}}
{{#if product.productPrice }} {{#if product.productPrice.price }}

{{product.productPrice.formattedPrice}} {{#if product.productPrice.priceType === "PRICE_RANGE" }} - {{product.productPrice.formattedPriceMax}} {{/if}}
{{/if}} {{/if}}
{{#if product.activeRequestButton}}
{{/if}}
{{product.productLabel}}
{{product.model}}

{{#each product.specData:i}} {{name}}: {{value}} {{#i!=(product.specData.length-1)}}
{{/end}} {{/each}}

{{{product.idpText}}}

{{productPushLabel}}
{{#if product.newProduct}}
{{/if}} {{#if product.hasVideo}}
{{/if}} {{#each product.productTagAssociationList}}
{{/each}}
{{/each}} {{/pushedProductsPlacement4.length}}
{{#pushedProductsPlacement5.length}} {{#each pushedProductsPlacement5}}
{{product.productLabel}}

{{product.productLabel}} {{product.model}}

{{#if product.featureValues}}
{{#each product.featureValues}} {{content}} {{/each}}
{{/if}}
{{#if product.productPrice }} {{#if product.productPrice.price }}

{{product.productPrice.formattedPrice}} {{#if product.productPrice.priceType === "PRICE_RANGE" }} - {{product.productPrice.formattedPriceMax}} {{/if}}
{{/if}} {{/if}}
{{#if product.activeRequestButton}}
{{/if}}
{{product.productLabel}}
{{product.model}}

{{#each product.specData:i}} {{name}}: {{value}} {{#i!=(product.specData.length-1)}}
{{/end}} {{/each}}

{{{product.idpText}}}

{{productPushLabel}}
{{#if product.newProduct}}
{{/if}} {{#if product.hasVideo}}
{{/if}} {{#each product.productTagAssociationList}}
{{/each}}
{{/each}} {{/pushedProductsPlacement5.length}}
microscopio electrónico
microscopio electrónico
JEM-Z300FSC

... energía Omega en columna de nuevo diseño y una placa de fase sin orificios mejora espectacularmente el contraste de las imágenes TEM de muestras biológicas. Características - Sistema automatizado de intercambio de muestras El sistema ...

Ver los demás productos
Jeol
microscopio electrónico
microscopio electrónico
JEM-ARM300F2

... Lanzamiento de un nuevo microscopio electrónico de resolución atómica El "GRAND ARM™2" ha sido actualizado. Este nuevo "GRAND ARM™2" permite la observación a una resolución espacial ultra alta con análisis de alta sensibilidad ...

Ver los demás productos
Jeol
microscopio electrónico de transmisión
microscopio electrónico de transmisión
JEM-ARM200F

Resolución espacial: 0,08 nm - 0,23 nm

... que facilita la observación de materiales con elementos ligeros, incluso con voltajes de aceleración bajos. La sala del microscopio está separada de la sala de operaciones para responder a una operación remota. Además, se adopta el nuevo ...

Ver los demás productos
Jeol
microscopio electrónico de transmisión
microscopio electrónico de transmisión
JEM-F200

Resolución espacial: 0,23, 0,19, 0,14, 0,16 nm

... largo de los años. - Sistema de condensador de cuatro lentes La microscopía electrónica actual requiere el soporte de una amplia gama de técnicas de captura de imágenes, desde la TEM de campo claro/campo oscuro hasta ...

Ver los demás productos
Jeol
microscopio electrónico
microscopio electrónico
JEM-2200FS

Aumento: 50 unit - 1.500.000 unit
Resolución espacial: 0,1 nm - 0,31 nm

... información sobre el estado químico o elemental de una muestra. También se dispone de espectroscopia para el análisis elemental y el análisis químico de muestras. Características - Filtro de energía en columna (filtro ...

Ver los demás productos
Jeol
microscopio electrónico
microscopio electrónico
JEM-1400Flash

Aumento: 10 unit - 1.500.000 unit
Resolución espacial: 0,14, 0,2 nm

... necesidades, se ha equipado un nuevo microscopio electrónico de 120 kV "JEM-1400Flash" con una cámara sCMOS de alta sensibilidad, un sistema de montaje de área ultraamplia y una función de enlace de imágenes OM ( microscopio ...

Ver los demás productos
Jeol
microscopio electrónico de barrido
microscopio electrónico de barrido
JSM-IT710HR

... Una visibilidad clara fomenta nuevos descubrimientos Hoy en día, no sólo se considera importante la resolución y el rendimiento analítico en el orden nanométrico, sino también el rendimiento en la adquisición de datos. El recién nacido JSM-IT710HR es ...

Ver los demás productos
Jeol
microscopio electrónico de barrido
microscopio electrónico de barrido
JSM-IT210

... productividad "Simple SEM Simple SEM automatiza la recogida de imágenes en múltiples ubicaciones, condiciones y aumentos. - Herramientas para la velocidad Platina con alta precisión de posición. Reubique las posiciones ...

Ver los demás productos
Jeol
microscopio electrónico de barrido
microscopio electrónico de barrido
JSM-IT200

... resultados de los análisis elementales, SMILE VIEW(TM) Lab para la generación de informes sin fisuras de los resultados de observación y/o análisis, etc., proporcionan un análisis rápido con transición ...

Ver los demás productos
Jeol
microscopio electrónico de barrido
microscopio electrónico de barrido
JCM-7000

... se pueden realizar análisis de materiales extraños y controles de calidad más rápidos y detallados. Características Observación y análisis rápidos sin tratamiento de la muestra con el SEM de sobremesa ...

Ver los demás productos
Jeol
exponga sus productos

& encuentre a todos sus clientes en un solo lugar durante todo el año

Hacerse expositor